卒業研究2016

シリコン検出器

APDの特性

飛跡検出のためのパターン認識

粒子の飛跡を測定するためには、高精度の位置分解能をもった検出器を大量に用いて粒子が通った飛跡上の点をできるだけ多く測定する。すると、多数の点（位置座標）が得られる。複数の粒子が同時に発生して検出器に入射し、かつ検出器自体にノイズによって生じた測定点が含まれる場合、粒子の飛跡を求めるためには通常二つの段階に分けて考える。

  1. パターン認識（同じ飛跡に属するヒットを探しだす）
  2. 飛跡パラメータの計算

ジェットの性質とフレーバー同定